2 プロダクト
| 絵 | モデル | 価格 | 数量 | 株式 | メーカー | 説明 | シリーズ | 状態 | 包装 | マウントタイプ | アプリケーション | パッケージ/ケース | インターフェース | 供給装置パッケージ | 電圧供給 | |
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見積もりを取得 |
3,350
在庫あり
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Texas Instruments | IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP | SCOPE™, Widebus™ | Obsolete | Tape & Reel (TR) | Surface Mount | Circuit Board Testing | 64-LQFP | 4-Wire Test Access Port (TAP) | 64-LQFP (10x10) | 2.7 V ~ 3.6 V | ||
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見積もりを取得 |
1,804
在庫あり
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Texas Instruments | IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP | SCOPE™, Widebus™ | Obsolete | Tape & Reel (TR) | Surface Mount | Circuit Board Testing | 64-LQFP | 4-Wire Test Access Port (TAP) | 64-LQFP (10x10) | 2.7 V ~ 3.6 V |
