2 プロダクト
| 絵 | モデル | 価格 | 数量 | 株式 | メーカー | 説明 | シリーズ | 状態 | 包装 | 作動温度 | マウントタイプ | パッケージ/ケース | 供給装置パッケージ | 供給電圧 | ビット数 | 論理タイプ | |
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846
在庫あり
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Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Bus Transceivers | ||
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3,810
在庫あり
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Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 74BCT | Obsolete | Tube | 0°C ~ 70°C | Through Hole | 24-DIP (0.300", 7.62mm) | 24-PDIP | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | Scan Test Device with Bus Transceivers |
