5 プロダクト
絵 | モデル | 価格 | 数量 | 株式 | メーカー | 説明 | シリーズ | 状態 | 包装 | 作動温度 | マウントタイプ | パッケージ/ケース | 供給装置パッケージ | 供給電圧 | ビット数 | 論理タイプ | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
見積もりを取得 |
2,075
在庫あり
|
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 74LVTH | Active | Tray | -40°C ~ 85°C | Surface Mount | 64-LQFP | 64-LQFP (10x10) | 2.7 V ~ 3.6 V | 18 | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers | |||
|
見積もりを取得 |
3,173
在庫あり
|
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 74LVTH | Active | Tray | -40°C ~ 85°C | Surface Mount | 64-LQFP | 64-LQFP (10x10) | 2.7 V ~ 3.6 V | 18 | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers | |||
|
見積もりを取得 |
1,952
在庫あり
|
Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | 74LVTH | Active | Tray | -40°C ~ 85°C | Surface Mount | 64-LQFP | 64-LQFP (10x10) | 2.7 V ~ 3.6 V | 18 | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers | |||
|
見積もりを取得 |
854
在庫あり
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | 74LVTH | Active | Tray | -40°C ~ 85°C | Surface Mount | 64-LQFP | 64-LQFP (10x10) | 2.7 V ~ 3.6 V | 18 | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers | |||
|
見積もりを取得 |
3,631
在庫あり
|
Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 74LVTH | Active | Tray | -40°C ~ 85°C | Surface Mount | 64-LQFP | 64-LQFP (10x10) | 2.7 V ~ 3.6 V | 18 | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |