2 プロダクト
| 絵 | モデル | 価格 | 数量 | 株式 | メーカー | 説明 | シリーズ | 状態 | 包装 | 作動温度 | マウントタイプ | パッケージ/ケース | 供給装置パッケージ | 供給電圧 | ビット数 | 論理タイプ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
見積もりを取得 |
2,710
在庫あり
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 74ABT | Obsolete | Tape & Reel (TR) | -40°C ~ 85°C | Surface Mount | 64-LQFP | 64-LQFP (10x10) | 4.5 V ~ 5.5 V | 20 | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers | ||
|
|
|
見積もりを取得 |
1,147
在庫あり
|
Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 74ABT | Obsolete | Tape & Reel (TR) | -40°C ~ 85°C | Surface Mount | 64-LQFP | 64-LQFP (10x10) | 4.5 V ~ 5.5 V | 20 | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers |
