1 プロダクト
| 絵 | モデル | 価格 | 数量 | 株式 | メーカー | 説明 | シリーズ | 状態 | 包装 | 作動温度 | マウントタイプ | パッケージ/ケース | 供給装置パッケージ | 供給電圧 | ビット数 | 論理タイプ | |
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1,802
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Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 74ABT | Active | Tube | -40°C ~ 85°C | Surface Mount | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) | 56-SSOP | 4.5 V ~ 5.5 V | 18 | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
